元器件生产调试时间长，需求很多VNA调试工位，测试成本长期居高不下

为了满足批量生产的需求，用户需要布置很多工位来调试这些器件的S参数指标。传统的做法是在每个工位独立配置一台二端口VNA，这样整个车间会需求大量的VNA，导致用户的测试成本长期居高不下。如何进一步降低测试成本，成为用户当前最大的挑战。

传统测试方案带来大量的资源闲置

在调试这类无源器件时，通常只需观测一个测量画面下的曲线变化情况，与仪器相关的参数配置基本固定不变。而现代VNA测量功能非常强大，可以同时配置多组测量通道(Channel)和测量显示界面（Diagram），各测量通道之间的切换速度非常之快，肉眼几乎无法辨别。显然，一台VNA只对应一个DUT的传统测试方案，会造成仪器测量资源大量闲置。为了提高仪器的使用效率，迫切需要对仪器资源进行复用。

罗德与施瓦茨提供更具性价比的多端口方案，用于多个DUT同时测试

针对以上情况，为了进一步降低测试成本，罗德与施瓦茨提供了一种更具性价比的测试方案：基于R&S®ZNB矢量网络分析仪和R&S®ZN-Z84开关矩阵的多端口扩展方案，该方案可对一台R&S®ZNB主机进行多工位复用。